集成电路产品EMC测试系统是严格按照IEC 61967和IEC 62132系列进行设计,整套系统的功能和性能不仅能够满足上述两大类标准要求的测试项目。而且在系统的关键技术具有创新性、实践可行性,满足各类集成电路模块、各类存储芯片、各类电源管理芯片、各类接口芯片、各类时钟芯片以及运放等。
集成电路产品EMC测试系统的测试项目有:EMI类、EMS类。
EMI类:依据IEC 61967系列标准;
TEM小室法—辐射发射测试;
表面扫描法—辐射发射测试;
1Ω/150Ω直接耦合法—传导发射测试;
TEM小室法—辐射发射测试的测试目的:在150kHz~1GHz内测试IC辐射发射。适用于封装/片内去耦/引脚分布等的优劣判别,测试要满足以下条件。
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